亞微米粒徑檢測儀為實驗室研究提供更好的分析技術

　　亞微米粒徑檢測儀是納米粒徑分析儀器，采用現在的動態(tài)光散射原理，利用的Nicomp多峰算法可以很的分析比較復雜多組分混合樣品。亞微米粒徑檢測儀為實驗室的研究提供的分析技術。 測試范圍：0.3 nm – 10μm。

　　一、亞微米粒徑檢測儀產品介紹：

　　380 N3000 亞微米粒徑檢測儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3 nm- 10μm。粒度分析復合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術的 Nicomp 多峰算法，亞微米粒徑檢測儀對于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢，其的解析度及重現性是其他同類產品*的。

　　二、亞微米粒徑檢測儀工作原理：

　　動態(tài)光散射法(DLS)，有時稱為準彈性光散射法（QELS），亞微米粒徑檢測儀是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用技術，粒度可小于1nm。 動態(tài)光散射法的典型應用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動，造成散射光光強的波動。亞微米粒徑檢測儀分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。